服務熱線
18610082868
<center id="iqwwo"></center>
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業 |
|---|
MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。
·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ·
?質量數范圍： 300amu，500amu，1000amu ·檢測器： 離子計數探測器、正負離子探測器、107 cps ·質量過濾器： 3F四級桿 ·桿直徑： 9mm ·加熱： 250℃ ·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。 ·光柵控制，增強深度分析能力 ·所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ·質量數范圍： 300amu，500amu，1000amu ·檢測器： 離子計數探測器、正負離子探測器、107 cps ·質量過濾器： 3F四級桿 ·桿直徑： 9mm ·加熱： 250℃ ·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
聯系QQ：52436437
聯系郵箱：luke.zhao@hiden.cn
聯系電話：010-52722415
聯系地址：北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235
掃一掃 微信咨詢
© 2025 英格海德分析技術有限公司 版權所有 備案號：京ICP備05008133號-4 技術支持：化工儀器網 管理登陸 sitemap.xml