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簡要描述：沉積速率監(jiān)測 分子束質(zhì)譜儀采用三級濾過四極桿質(zhì)譜儀，適于分子束和多源分子束研究和MBE監(jiān)測。
產(chǎn)品型號：XBS MBE廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2023-11-22訪 問 量：3984| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,航空航天,電氣 |
沉積速率監(jiān)測 分子束質(zhì)譜儀
應用：
• MBE 監(jiān)測和控制
• 分子束研究
• 多束源分析
• 高性能殘余氣體研究
• 脫附 / 除氣研究/烘烤周期
• 容器、過程氣體污染物分析
特點：
• 靈敏度高, 檢測范圍從100% 至5ppb,質(zhì)量數(shù)范圍至510 amu.
• 長期穩(wěn)定性(24h以上，峰高變化小于±0.5%).
• 交叉離子源,束接收角同軸的橫斷面呈 +/- 35°
• 離子源控制，用于軟離子化和表觀電勢質(zhì)譜
• 靈敏度增強用于大質(zhì)量數(shù)的傳輸，自動質(zhì)量數(shù)范圍列表
• 2mm 束接受孔， 也可為特殊使用者配置
• 一級過濾處增加射頻，抗污染物能力增強。
• 內(nèi)置UHV 兼容的水冷卻罩
• 分子束研究中，檢測極限低至30 ions / s
• 監(jiān)測生長速率1Å / min，或更低
• Windows™ 界面的MASsoft軟件通過RS232、RS485 或以太網(wǎng)控制
上一產(chǎn)品：IMP-EPD離子蝕刻探針－終點檢測儀
下一產(chǎn)品：IGA智能重量法吸附儀
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